O Firmie i Kontakt
Mikroskopy biomedyczne
Mikroskopy stereoskopowe
Mikroskopy przemysłowe
Mikroskopy konfokalne
Mikroskopy operacyjne
Oprogramowanie
Aparaty i kamery
Mikroskopia wirtualna
Mikroskopy elektronowe
Laboratorium i edukacja
Mikrodysekcja laserowa

Mikroskopy elektronowe


SEM 

Skaningowa mikroskopia elektronowa jest techniką nieniszczącą, która wykorzystuje wiązkę elektronów do obserwacji i analizy powierzchni próbek materiałów organicznych i nieorganicznych, w skali od nanometrycznej do mikrometrycznej. Skaningowe mikroskopy elektronowe wytwarzają obrazy o dużym powiększeniu, z wysoką rozdzielczością oraz dają możliwość tworzenia obrazu przestrzennego, co czyni je odpowiednimi narzędziami do szerokiego zakresu zastosowań w wielu dziedzinach nauki i przemysłu.

Systemy SEM mogą być wyposażone w katodę wolframową lub katodę LaB6. Katoda LaB6 zapewnia lepszą rozdzielczość obrazów (około 2 nm) ponieważ uzyskiwana wiązka elektronowa jest bardziej jednorodna energetycznie z uwagi na niższą temperaturę pracy włókna. Emitery LaB6 zapewniają także dłuższy czas działania (życia), w porównaniu do źródeł wolframowych.

Najlepszym źródłem elektronów są emitery polowe (FEG), wytwarzające wiązkę o wysokiej jasności i stabilności. Zapewniają obrazowanie o wysokiej rozdzielczości (rzędu 0.7 nm) i doskonałe możliwości analityczne. Dostępne, standardowe komory mikroskopów umożliwiają umieszczenie w nich badanych obiektów o wysokości od 3 do ponad 15 cm i średnicy do około 35 cm. Stoliki próbek pozwalają na precyzyjny przesuw preparatów we wszystkich osiach (X,Y,Z, rotacja, pochylenie). Oferowane są zarówno stoliki całkowicie zmotoryzowane jak i stoliki obsługiwane ręcznie.
Komory wyposażone są w liczne porty do montażu dodatkowego wyposażenia analitycznego i oprzyrządowania badawczego.


FIB SEM

FIB-SEM (skaningowy mikroskop elektronowy z dodatkowym działem jonowym) umożliwia w jednym urządzeniu wykorzystanie wiązki elektronów i jonów. Kolumna SEM zapewnia obrazowanie w wysokiej rozdzielczości, podczas gdy kolumna FIB umożliwia modyfikację powierzchni próbek. Dwuwiązkowy system FIB-SEM umożliwia trawienie powierzchni, nanoszenie warstw oraz przygotowywanie próbek dla transmisyjnej mikroskopii elektronowej.

W systemach FIB-SEM ogniskowe elektronów i wiązek jonowych, pokrywają się, co umożliwia równoczesne obrazowanie (SEM) i trawienia warstw próbki (FIB).
Dostępne są dwa różne źródła FIB: działo z jonami galu oraz działo z plazmą jonów ksenonu. FIB-Ga znajduje zastosowane we wszystkich aplikacjach, które wymagają najwyższej precyzji przy tworzeniu struktur niskowymiarowych. Systemy FIB-SEM ze źródłem plazmowym pozwalają uzyskać wysoki prąd jonowy co umożliwia trawienie dużych objętości materiału w krótkim czasie (do 50 razy szybsze trawienie w porównaniu do Ga-FIB). Możliwa jest także analiza jonów wtórnych (SIMS) oraz wykonywanie analiz tomograficznych. Pod względem precyzji, systemy plazmowe FIB-SEM mogą osiągnąć rozdzielczość <15 nm, są one przeznaczone do zadań, które wymagają jednocześnie wysokiej wydajności i dokładności.

EDX, WDX

EDX (Energy Dispersive X-Ray Analysis) i WDX (Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy) to techniki analityczne stosowane w mikroskopii elektronowej, w których promienie rentgenowskie, powstałe w wyniku oddziaływania wiązki elektronów z atomami badanej próbki są wykorzystywane do analizy składu pierwiastkowego próbek. Piki w uzyskiwanych widmach EDX i WDX, odpowiadają charakterystycznym liniom promieniowania rentgenowskiego z określonego zakresu. Analiza widma umożliwia ilościową i jakościową charakterystykę chemiczną próbek.

W analizie EDX cały zakres energii promieniowania rentgenowskiego jest mierzony jednocześnie, w przeciwieństwie do WDX, w którym mierzy się tylko jedną długość fali (odpowiadającą jednej wartości energii) w określonym czasie. Dlatego analiza EDX jest szybsza w porównaniu do WDX. WDX oferuje jednak znacznie lepszą rozdzielczość i czułość niż EDX co jest szczególnie przydatne przy analizie niskich koncentracji pierwiastków.

Można jednocześnie analizować próbki z wykorzystaniem EDX i WDX. W przypadku nieznanych próbek, wygodnie jest przeprowadzić wstępną analizę EDX, która zidentyfikuje główne pierwiastki obecne w próbce, a następnie bardziej czułą analizę WDX, aby rozdzielić pokrywające się piki i wykryć elementy śladowe, których zawartość jest niższa od granicznej wykrywalności detektora EDX.

Detektory SE, BSE (Scintillation crystal-based SE, BSE detectors)

Detektory te wyposażone są w najwyższej klasy scyntylatory na bazie kryształów. Ten typ detektorów obrazowania SEM osiąga wysoką czułość i wysoką rozdzielczość (0,1 Z dla detekcji BSE) zapewniające najwyższą jakości obrazu.
Głównymi zaletami detektorów opartych na kryształach scyntylacyjnych są:

  • Wysoka szybkość przetwarzania obrazu do 20 ns / piksel,
  • Stabilność temperatury,
  • Niski poziom szumów,
  • Możliwość obserwacji w trybie niskiej i wysokiej próżni,
  • Brak utraty własności w czasie,
  • Wysoka odporność mechaniczna,

W ofercie posiadamy również pompy próżniowe dostosowane do potrzeb klienta (m. in. pompy scroll, jonowe i turbomolekularne) oraz napylarki.

do góry
 

© Copyright 2013 PRO FOTO