Zeiss Smartproof 5
Smartproof 5 to mikroskop konfokalny do analizy powierzchni materiałów, charakteryzujący się unikalnymi cechami, wśród których na szczególną uwagę zasługuje zasada działania oparta na technologii Spinning-Disk, poszerzona o technologię „Aperture Correlation”, umożliwiająca 2-3 krotnie szybsze pozyskiwanie danych. Efektywna technologia „korelacji przesłony aperturowej” pozwoliła na zastosowanie jako oświetlenia diody LED 405nm. Efektem jest produkt o doskonałym wręcz stosunku jakości do ceny.
Funkcjonalny interfejs do pobierania danych obrazowych oraz doskonałe oprogramowanie ConfoMap – złoty standard w dziedzinie oprogramowania metrologicznego firmy Digital Surf, powoduje, iż mikroskop konfokalny ZEISS Smartproof 5 może być z powodzeniem stosowany zarówno w aplikacjach przemysłowych jak i analityczno-badawczych.
Perfekcyjna kombinacja zintegrowanej z układem optycznym kamery cyfrowej, obiektywów o wysokiej aperturze numerycznej oraz systemu akwizycji obrazów, zapewnia doskonałą rozdzielczość topografii 3D a tym samym miarodajne wyniki dotyczące chropowatości analizowanej powierzchni.
Ze względu na prostotę pozyskiwania danych oraz na możliwość stworzenia makr do rutynowych analiz, urządzenie doskonale sprawdzi się zarówno w laboratoriach kontroli jakości, zapewnienia jakości jak i laboratoriach badawczo-rozwojowych.
Wykorzystać je można w aplikacjach związanych z pomiarami chropowatości (w oparciu o normę ISO), pomiarami geometrii powierzchniowych struktur 3D, pomiarami krawędzi i stopnia zużycia materiałów, pomiarami wielkości i kształtu cząstek, analizą i kwalifikacją ścieżek układów elektronicznych i wielu innych.
- Źródło światła: Dioda 405nm do obrazowania konfokalnego oraz dioda RGB do obrazowania szerokiego pola
- Optyka: obiektywy 5x/0,2; 10x/0,4 (WD=5,4mm); 20x/0,7 (WD=1,3mm); 50x/0,95 (WD=0,22mm); 50x/0,6 (WD=7,6mm); 100x/0,75 (WD=4,0mm)
- Rozdzielczość obrazowania: 2048x2048 pikseli
- Szybkość skanowania: do 50 ramek/sek przy rozdzielczości 2045x2045
- Rozdzielczość posuwu w osi „z”: 1nm
- Maksymalny zakres skanowania w osi „z”: 5mm
- Maksymalna wysokość badanej próbki : 100mm
- Maksymalny ciężar próbki: 5kg
